村上 洋介 | ソニー(株)マテリアル研究所 材料解析センター

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関連著者

• 冨谷 茂隆

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• 水口 由紀子

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• 村上 洋介

  ソニー(株)マテリアル研究所 材料解析センター

• 浅井 正

  ソニーイーエムシーエス(株)東海テック

• 気賀 智也

  ソニーイーエムシーエス株式会社幸田テック

• 田中 伸史

  ソニー(株)マテリアル研究所 材料解析センター

• 気賀 智也

  ソニーイーエムシーエス(株)東海テック

• 冨谷 茂隆

  ソニー株式会社先端マテリアル研究所

• 冨谷 茂隆

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• 水口 由紀子

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• 村上 洋介

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著作論文

• 外部応力型ウィスカにおける現象解明と抑制技術(ウィスカ関係,高密度実装設計に要求される新しい信頼性技術)
• 外部応力型ウィスカの試験方法およびメカニズム解明
• 機械的応力により発生するSnウィスカにおける屈曲・湾曲部の形成と結晶方位の関係性 (高密度実装を牽引する材料技術とヘテロインテグレーション論文特集)

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