大沢 裕一 | (株)東芝 研究開発センター:東北大学 電気通信研究所

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概要

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• 大沢 裕一

  (株)東芝研究開発センター、材料・デバイス研究所

• 大沢 裕一

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• 佐橋 政司

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  (株)東芝

• 與田 博明

  (株)東芝 研究開発センター

• 與田 博明

  (株)東芝

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  東芝

• 坂田 浩実

  (株)東芝、研究開発センター

• 小林 忠彦

  (株)東芝総合研究所

• 小林 忠彦

  (株)東芝 研究開発センター

• 舟山 知巳

  (株)東芝 材料デバイス研究所

• 坂田 浩実

  (株)東芝 研究開発センター

• 岩崎 仁志

  (株)東芝研究開発センター記憶材料・デバイスラボラトリ

• 福家 ひろみ

  (株)東芝研究開発センター記憶材料・デバイスラボラトリ

• 福家 ひろみ

  (株)東芝研究開発センター

• 佐橋 政司

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 斎藤 和浩

  (株)東芝 研究開発センター

• 斉藤 和浩

  (株)東芝研究開発センター

• 佐藤 政司

  (株)東芝研究開発センター、材料・デバイス研究所

• 佐橋 政司

  東北大学 大学院工学研究科 電子工学専攻

• 船山 知己

  (株)東芝,研究開発センター

• 舟山 知巳

  (株)東芝、研究開発センター

• 坂田 知美

  (株)東芝 研究開発センター

• 奥田 博明

  (株)東芝 研究開発センター

• 岩崎 仁志

  (株)東芝

• 福家 ひろみ

  (株)東芝 研究開発センター 記憶材料・デバイスラボラトリ

• 船山 知己

  (株)東芝 デジタルメディアネットワーク社

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著作論文

• IrMn/CoFeスピンバルブGMRのピン磁化耐熱性
• スピンバルブGMRにおけるESD耐性のリード構造依存性
• 新バイアス構造によるサブミクロン対応GMRヘッド
• 新バイアス構造によるサブミクロントラック対応GMRヘッド
• NiFe膜による平面型ナノポイントコンタクトの作製と磁気抵抗効果測定(ハードディスクドライブ及び一般)
• CP-1-2 スピントロニクス(CP-1.量子およびナノデバイスロードマップ,パネルセッション,ソサイエティ企画)
• NiFe膜による平面型ナノポイントコンタクトの作製と磁気抵抗効果測定
• リードオーバーレイト構造による耐ESD性の向上

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