鈴木 英一 | 電総研
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概要
関連著者
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鈴木 英一
電総研
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石井 賢一
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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金丸 正剛
電総研
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前田 辰郎
電子技術総合研究所電子デバイス部
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金丸 正剛
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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坂本 統徳
電総研
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堤 利幸
電総研
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冨澤 一隆
明治大学大学院理工学研究科
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石井 賢一
電総研
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廣島 洋
電総研
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冨澤 一隆
明治大学
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小宮 祥男
電総研
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垂井 康夫
電総研
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我妻 洋
電総研
著作論文
- デバイス特性による Si ナノ細線の評価と自己抑止酸化による細線幅の改善
- 絶縁膜上での世界最小のゲ-ト長40nmMOSFETの試作に成功
- 極薄膜微結晶Si膜の作製とその特性
- ナノメ-タ-サイズSi量子細線の作製
- 3)Ta_2O_5-SiO_2-Si構造による可視光不揮発性メモリーおよび光導波路(第51回テレビジョン電子装置研究会)
- 光によるMAOS構造のトラップの測定 (半導体デバイス特集-6-)