金岡 竜範 | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター

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関連著者

• 大野 吉和

  三菱電機 ULSI開発研究所

• 金岡 竜範

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 伊藤 博巳

  三菱電機 Ulsi開発研究所

• 金岡 竜範

  三菱電機 ULSI開発研究所

• 安間 正俊

  三菱電機 ULSI開発研究所

• 平山 誠

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• 大野 吉和

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• 小林 淳二

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• 大野 吉和

  (株)ルネサステクノロジ

• 井上 真雄

  (株)ルネサステクノロジ

• 寺本 章伸

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• 大野 吉和

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• 高橋 貫治

  菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング(株)

• 堀江 靖彦

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 原 英司

  三菱電機(株)先端技術総合研究所

• 小林 淳二

  三菱電機(株)

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著作論文

• (窒素+リン)同時ドープ非晶質シリコンによるフラッシュメモリの新規浮遊電極
• ゲート酸化膜の電気的特性に対する有機物汚染の影響
• (窒素+リン)同時ドープ非晶質シリコンによるフラッシュメモリの新規浮遊電極

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