松下 浩一 | 松下電器産業株式会社 半導体社 品質技術グループ
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概要
関連著者
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松下 浩一
松下電器産業株式会社 半導体社 品質技術グループ
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松下 浩一
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和田 哲明
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松下電器産業株式会社 半導体社 品質技術グループ
著作論文
- セッション1-3 BGAはんだボール端子の接続測定方法(信頼性・品質3学会合同シンポジウム)
- BGAはんだボール端子の接続測定方法
- Sn-Bi外装めっきの接続信頼性
- デバイス帯電系ESD試験法比較(CDM法・小容量コンデンサー放電法)