高橋 保彦 | (株)ルネサステクノロジ
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概要
関連著者
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一法師 隆志
(株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部
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岩松 俊明
(株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部
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秋山 悟
日立製作所・中央研究所
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石井 智之
日立
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渡部 隆夫
日立中央研究所
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石井 智之
(株)日立製作所中央研究所
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峰 利之
(株)日立製作所中央研究所
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柳沢 一正
(株)ルネサステクノロジ
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秋山 悟
(株)日立製作所中央研究所
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亀代 典史
(株)日立製作所中央研究所
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渡部 隆夫
(株)日立製作所中央研究所
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佐野 俊明
(株)ルネサス北日本セミコンダクタ
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伊部 英史
(株)日立製作所中央研究所
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高橋 保彦
(株)ルネサステクノロジ
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岩松 俊明
ルネサスエレクトロニクス株式会社
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渡部 隆夫
日立製作所中央研究所 ソリューションlsi研究センタulsi研究部
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石井 智之
日立製作所中央研究所
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石井 智之
神奈川工科大学情報学部
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峰 利之
日立製作所中央研究所
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渡部 隆夫
(株)日立製作所 中央研究所
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一法師 隆志
(株)ルネサステクノロジ
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渡部 隆夫
(株)日立製作所
著作論文
- ロジックプロセス互換型SESOメモリセルによる低ソフトエラー(0.1FIT/Mb)、高速動作(100MHz)、長リテンション(100ms)の実現(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- ロジックプロセス互換型SESOメモリセルによる低ソフトエラー(0.1FIT/Mb)、高速動作(100MHz)、長リテンション(100ms)の実現(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)