柳沢 昌輝 | 住友電気工業株式会社 オプトエレクトロニクス研究所

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概要

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• 住友電気工業株式会社 オプトエレクトロニクス研究所の論文著者

関連著者

• 柳沢 昌輝

  住友電気工業(株)オプトエレクトロニクス研究所

• 川崎 健

  ユーディナデバイス株式会社先端デバイスグループ

• 柳沢 昌輝

  住友電気工業株式会社 オプトエレクトロニクス研究所

• 矢野 浩

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 小谷 謙司

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 川崎 健

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 八重樫 誠司

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 矢野 浩

  ユーディナデバイス株式会社

• 小谷 謙司

  ユーディナデバイス株式会社

• 八重樫 誠司

  ユーディナデバイス株式会社

• 八重樫 誠司

  住友電気工業株式会社

• 小谷 謙司

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 川崎 健

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 山日 竜二

  住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所

• 山日 竜二

  住友電気工業株式会社 オプトエレクトロニクス研究所

• 柳沢 昌輝

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 山日 竜二

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

• 八重樫 誠司

  住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所

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著作論文

• InPパッシベーション構造InGaAs/InP HBTの信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
• 高均一,高信頼性特性を有するInP/InGaAs HBT の開発
• 高均一,高信頼性特性を有するInP/InGaAs HBTの開発
• SC-7-4 40Gb/s光通信用高速、高均一InP/GaInAs HBTの開発
• C-10-13 サブコレクタ埋め込み構造InP/InGaAs HBTの検討
• InPパッシベーション構造InGaAs/InP HBTの信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

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