立花 繁明 | エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
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概要
関連著者
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立花 繁明
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
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立花 繁明
エスアイアイ・ナノテクノロジー
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名越 正泰
JFEスチール(株)
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名越 正泰
Jfeスチール(株)スチール研究所
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名越 正泰
Jfe日本鋼管(株)
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幅崎 浩樹
北海道大学 大学院工学研究科
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Habazaki H
Institute For Materials Research Tohoku University
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清水 健一
慶應義塾大学
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清水 健一
慶応大
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三谷 智明
慶應義塾大学 中央試験所
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幅崎 浩樹
北海道大学
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佐藤 馨
Jfeスチール(株)スチール研究所分析・物性研究部
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幅崎 浩樹
東北大学金属材料研究所
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永野 英樹
Jfeスチール(株)基盤技術研究所
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三谷 智明
慶應義塾大学理工学部中央試験所
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青山 朋弘
JFEスチール(株)スチール研究所
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佐藤 馨
Jfeスチール
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清水 健一
慶應義塾大学経済学部化学教室
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永野 英樹
JFEスチール(株)スチール研究所
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名越 正泰
JFEスチール(株)スチール研究所
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立花 繁明
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
著作論文
- 超ミクロトームによる断面出しと低加速・高分解能反射電子像観察
- 加速電圧選択によるSEM像コントラストの向上
- 加速電圧および取込み角を制御した反射電子像による低炭素鋼酸化スケール組織の物質情報と結晶方位情報の取分け