立花 繁明 | エスアイアイ･ナノテクノロジー
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概要
関連著者
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立花 繁明
エスアイアイ･ナノテクノロジー
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清水 健一
慶應義塾大学経済学部化学教室
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清水 健一
慶応大
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幅崎 浩樹
北海道大学 大学院工学研究科
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Habazaki H
Institute For Materials Research Tohoku University
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清水 健一
慶應義塾大学
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三谷 智明
慶應義塾大学 中央試験所
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幅崎 浩樹
北海道大学
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幅崎 浩樹
東北大学金属材料研究所
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三谷 智明
慶應義塾大学理工学部中央試験所
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立花 繁明
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
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立花 繁明
Carl Zeiss Japan
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花田 剛
Czi
著作論文
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外5)rf-GDによる試料前処理と低加速FE-SEM/ESBによる溶射皮膜/基材断面の簡易・迅速観察法
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外3)低加速FE-SEM/ESBによるアルミ磁気ディスク基板表面汚染の観察
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外2)低加速FE-SEM/ESBによる樹脂/めっき界面の簡易・迅速観察法
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外1)低加速FE-SEM/ESBによるプリント基板のはんだ接合界面の簡易・迅速観察法
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(終)rf-GDOESと低加速FE-SEM/ESBの拓く新たな表面分析の世界
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(5)In-lens, ultra-high resolution BSE imagingによるAI表面皮膜断面の観察
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(4)低加速FE-SEM/ESBによる亜鉛めっき鋼板断面の観察
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(3)低加速FE-SEM/ESBによる金属表面皮膜断面の簡易・迅速観察法
- 超ミクロトームによる断面出しと低加速・高分解能反射電子像観察
- 電子顕微鏡による断面・界面観察の新たな世界
- 高分解能FE-SEM/ESB/ASBの拓く : 新たなナノ表面分析の世界
- 磁界・静電界複合光学系SEMにおける信号検出 (特集 SEMにおける信号検出と像コントラストの違い)
- 加速電圧選択によるSEM像コントラストの向上
- Voltage Optimizationの一環としての低加速電圧SEM (最新分析手法とその応用)