清水 健一 | 慶應義塾大学経済学部化学教室
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概要
関連著者
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清水 健一
慶應義塾大学経済学部化学教室
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清水 健一
慶応大
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清水 健一
慶應義塾大学
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幅崎 浩樹
北海道大学 大学院工学研究科
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幅崎 浩樹
東北大学金属材料研究所
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三谷 智明
慶應義塾大学理工学部中央試験所
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立花 繁明
エスアイアイ･ナノテクノロジー
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Habazaki H
Institute For Materials Research Tohoku University
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幅崎 浩樹
北海道大学
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清水 健一
慶応義塾大学 経済学部
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三谷 智明
慶應義塾大学 中央試験所
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SKELDON Peter
Corrosion and Protection Centre, UMIST
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Skeldon Peter
Corrosion And Protection Centre Umist
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WOOD Graham
Corrosion and Protection Centre, UMIST
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Thompson G
Umist Manchester Gbr
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Wood Graham
Corrosion And Protection Centre Umist
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幅崎 浩樹
東北大学 金属材料研究所
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THOMPSON George
Corrosion and Protection Centre, University of Manchester Institute of Science and Technology
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Thompson George
Corrosion And Protection Centre Umist
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立花 繁明
Carl Zeiss Japan
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花田 剛
Czi
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金野 英隆
北海道大学大学院工学研究科
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立花 繁明
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
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藤谷 洋
日本FEI(株)アプリケーションラボラトリー
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PETER Skeldon
Corrosion and Protection Centre, UMIST
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GEORGE E.
Corrosion and Protection Centre, UMIST
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THOMPSON Geroge
Corrosion and Protection Centre, UMIST
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清水 健一
慶応大学 経済学部化学教室
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金野 英隆
北海道大学工学部
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George E.
Corrosion And Protection Centre Umist
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Peter Skeldon
Corrosion And Protection Centre Umist
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三谷 智明
慶応大学理工学部中央試験所
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藤谷 洋
日本エフイー・アイ株式会社 アプリケーションラボラトリー
著作論文
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外5)rf-GDによる試料前処理と低加速FE-SEM/ESBによる溶射皮膜/基材断面の簡易・迅速観察法
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外4)rf-GDによる試料前処理と低加速FE-SEM/ESB/ASB/EBSPによる鉄鋼微細組織の簡易・迅速観察法
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外3)低加速FE-SEM/ESBによるアルミ磁気ディスク基板表面汚染の観察
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外2)低加速FE-SEM/ESBによる樹脂/めっき界面の簡易・迅速観察法
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(終)rf-GDOESと低加速FE-SEM/ESBの拓く新たな表面分析の世界
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(5)In-lens, ultra-high resolution BSE imagingによるAI表面皮膜断面の観察
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(4)低加速FE-SEM/ESBによる亜鉛めっき鋼板断面の観察
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(3)低加速FE-SEM/ESBによる金属表面皮膜断面の簡易・迅速観察法
- アルミニウムのアノード酸化
- GDOESナノ薄膜分析ですぐれた深さ分解能を持つデプスプロファイルを得るために
- SEMの新たな世界
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外・最終回)FIBとrf-GD併用による半導体素子断面試料の作成--完璧なSEM-friendly surfaceを求めて
- 超ミクロトームによる断面出しと低加速・高分解能反射電子像観察
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外9)SEM-friendlyな前処理方法を探して
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外8)フラッシュメモリー断面・3D観察の新手法
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外7)高分解能FE-SEM channeling BSE imagingによる高純度Al箔微細組織の観察
- 番外編 ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(番外6)超高分解能BSE imagingによる高純度Al箔表面のPbナノ微粒子の観察
- 電子顕微鏡による断面・界面観察の新たな世界
- 高分解能FE-SEM/ESB/ASBの拓く : 新たなナノ表面分析の世界
- バルブ金属アノード酸化皮膜の結晶化
- 私の願うこと
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(2)rf-GDOESによるナノ薄膜分析
- ユーザーの立場に立った表面分析の新展開(1)短時間・高精度・多領域・低分析コストのニーズに応える「rf-GDOES」
- チタンおよびチタン合金のアノード酸化皮膜の構造と皮膜成長挙動
- 低加速FE-SEMによるA1表面皮膜の観察
- Ni-P/Alハードディスク基板のGDOESによる分析および断面TEMによる観察
- GD-OESによる金属表面薄膜の分析
- バルブ金属表面に生成するアノード酸化皮膜の構造と性質
- 超低加速・高分解能FE-SEMによる半導体デバイスの観察
- タンタルアノード酸化皮膜の成長機構に関する研究の現状
- アルミニウムおよびアルミニウム合金のアノード酸化 -バリアー型皮膜の成長挙動-
- アルミニウム合金のアノード酸化 : 合金元素の合金/皮膜界面への濃縮と皮膜中での移動性
- 超低加速・高分解能FE-SEMの腐食研究への応用(1) : 高分解能SEM観察に適した試料表面前処理方法
- 高周波グロー放電発光分析法(rf-GDOES)によるナノ薄膜の高分解能デプスプロファイル分析
- 超低加速・高分解能FE-SEMの腐食研究への応用(2) : 応用例
- 超低加速・超高分解能電界放出型走査型電子顕微鏡の拓くナノ表面分析の新たな世界 : ステンレス鋼中のナノ介在物の観察と分析
- 超低加速・超高分解能電界放出型走査型電子顕微鏡と高周波グロー放電スパッタリングによる新規試料表面前処理法の拓く腐食科学の新たな世界