名越 正泰 | Jfeスチール(株)スチール研究所
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概要
関連著者
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名越 正泰
Jfeスチール(株)スチール研究所
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名越 正泰
Jfe日本鋼管(株)
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JFEスチール(株)スチール研究所
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JFE日本鋼管(株)
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佐藤 馨
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Jfe・スチール研
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JFEスチール(株)スチール研究所
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濱田 悦男
Jfeスチール株式会社 スチール研究所
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名古屋大学工学部
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本間 芳和
東京理科大学
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名越 正泰
Jfeスチール株式会社スチール研究所
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名越 正泰
Nkk 基盤技術研究所
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濱田 悦男
JFEスチール株式会社スチール研究所
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名越 正泰
JFE-NKK基盤研
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河野 崇史
JFE-NKK基盤研
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佐藤 馨
JFE-NKK基盤研
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NKK 基盤研
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NKK 基盤研
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NKK 総合研
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NKK基盤技術研究所
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NKK基盤技術研究所
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名古屋大学大学院工学研究科
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名越 正泰
NKK基盤技術研究所
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NKK総合材料技術研究所
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エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
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JFEスチール株式会社スチール研究所
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山地 隆文
Nkk総合材料技術研究所・表面処理研究部
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塩崎 毅
日本鋼管 総合材料技研
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Nkk総合材料技術研究所薄板研究部
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Jfeスチール(株)基盤技術研究所
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本間 芳和
東京理科大学理学部物理学科
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船川 義正
日本鋼管 総合材料技研
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塩崎 毅
NKK(株) 総合材料技術研究所
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佐藤 馨
JFE日本鋼管(株)
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青山 朋弘
JFEスチール(株)スチール研究所
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船川 義正
Nkk 総合材料技術研究所
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濱田 悦男
Jfeスチール(株)スチール研究所
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佐藤 馨
Nkk 基盤技術研究所 物理解析チーム
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濱田 悦男
Jfeスチール スチール研
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永野 英樹
JFEスチール(株)スチール研究所
-
名越 正泰
JFEスチール(株)スチール研究所
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立花 繁明
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
-
本間 芳和
東京理科大
著作論文
- 低加速電圧走査電子顕微鏡の鉄鋼表面解析への応用(分析技術と方法論の最近の進歩)
- XAFSを活用した環境試料が含む重金属の化学形態解析 (分析・解析特集号)
- XAFSによるマイクロアロイの非破壊状態解析 (分析・解析特集号)
- 極低加速走査電子顕微鏡(SEM)による鋼板表層の微細構造観察技術 (分析・解析特集号)
- 極低加速電圧走査電子顕微鏡法
- 電子後方散乱図形(EBSP)を用いた結晶相同定技術と鉄鋼材料への応用
- 極低加速SEMによる材料表面の二次電子像観察
- XAFSによるマイクロアロイの非破壊状態解析
- TEMとXANESを用いた樹脂クロメート皮膜の解析
- 加速電圧および取込み角を制御した反射電子像による低炭素鋼酸化スケール組織の物質情報と結晶方位情報の取分け
- 極低加速走査電子顕微鏡でみた実材料表面
- 極低加速SEM (最新の分析技法)
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板の表・断面解析と微細構造制御 (特集 材料の明日を拓く表面・界面の制御・評価技術)