藤方 潤一 | NEC機能エレクトロニクス研究所

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概要

• 同名の論文著者
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関連著者

• 林 一彦

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 藤方 潤一

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 藤方 潤一

  日本電気(株)

• 中田 正文

  日本電気(株)ナノエレクトロニクス研究所

• 中田 正文

  Nec機能エレ研

• 山本 英文

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• 山本 英文

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• 田中 正文

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• 永原 聖万

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• 斎藤 美紀子

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• 齋藤 美紀子

  Nec・機能エレクトロニクス研究所

• 石原 邦彦

  日本電気(株)基礎・環境研究所

• 斎藤 美紀子

  Nec機能エレクトロニクス研究所

• 齋藤 美紀子

  日本電気(株)基礎・環境研究所

• 上條 敦

  NEC基礎研

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著作論文

• スピンバルブ素子におけるΔR-Hクロスポイント要因
• スピンバルブの磁気抵抗変化に及ぼす界面平坦性の影響
• PtMnおよびNiO反強磁性膜を用いたスピンバルブ膜のMR特性
• 超クリーンスパッタによるスピンバルブ膜のMR特性
• NiO/α-Fe_2O_3反強磁性体を用いたピンバルブ膜
• Mn系反強磁性体を用いた交換結合膜の熱安定性
• NiO/CoO反強磁性二層膜を用いたスピンバルブ膜

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