松岡 史宜 | 東北大学電気通信研究所

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概要

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関連著者

• 舛岡 富士雄

  東北大学電気通信研究所

• 松岡 史宜

  東北大学電気通信研究所

• 遠藤 哲郎

  東北大学 電気通信研究所

• 桜庭 弘

  東北大学電気通信研究所

• 遠藤 哲郎

  東北大学電気通信研究所

• 日置 雅和

  東北大学電気通信研究所

• 松岡 史宜

  東北大学 電気通信研究所

• 日置 雅和

  東北大学 電気通信研究所

• 桜庭 弘

  東北大学 電気通信研究所

• 舛岡 富士雄

  東北大学 電気通信研究所

• 遠藤 哲郎

  明治大学理工学部電子通信工学科

• 遠藤 哲郎

  東北大学 学際科学国際高等研究センター

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著作論文

• C-11-3 Surrounding Gate Transistor (SGT) DRAM セルのソフトエラー現象の解析
• C-11-4 Double Gate-SOI(DG-SOI)MOSFETのソフトエラーのα粒子入射軌道依存性
• C-11-5 Double Gate-SOI(DG-SOI)MOSFETにおけるソフトエラー現象の解析
• C-11-3 Surrounding Gate Transistor(SGT) DRAMのソフトエラー耐性に関する考察

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