高野 忠 | 日本大学電子工学科

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概要

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• 日本大学電子工学科の論文著者

日本大学電子工学科 | 論文

• MNOS構造のトータルドーズ効果における絶縁膜厚依存性
• MOS構造における重イオン照射誘起電流
• 傾斜エッチング法を用いたMetal-Nitride-Oxide-Si構造絶縁膜中の固定電荷分布及び電荷量の絶縁膜厚依存性評価
• MNOS構造のトータルドーズ効果における絶縁膜厚依存性
• 炭化けい素半導体MOS構造のγ線照射効果とそのメカニズム (ワイドギャップ半導体とそのデバイス応用論文小特集)

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