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表面分析研究会 | 論文
- Adsorption of (CH3)2S on c(10×2)Ag/Cu(100) Studied by S K-edge NEXAFS and XPS
- AESによるSiO2/Si試料表面の電子線照射損傷評価〔含 質疑〕
- 金属クラスター錯体を用いたクラスターイオン銃の開発
- 講義 単体元素と遷移金属シリサイドのスパッタ速度
- 試料ハンドリング (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- AESによるセラミックス表面の正確な定量補正方法の検討
- Log-Log表示によるAESスペクトル:拡張Sickafus Plot
- 解説 AESを用いた鋼中析出物分析における空間分解能及び軽元素定量の検討
- フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発
- 講義 電子分光におけるスペクトル強度と幅の理論的解釈
- 実用電子分光法講座 第一回講義メモ(1993.2.4) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 実用電子分光法講座 第2回講義メモ(1993.5.31) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 講義 III-V族化合物半導体表面及び硫黄処理表面分析--組成、構造、電子状態
- 2004年度実用表面分析国際シンポジウム PSA-04開催記
- クラスターイオンの新しい展開--ナノプロセスから先端分析応用
- プロジェクト報告 スペクトル強度分散評価ラウンドロビンテスト(第1報) (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
- 走査型オージェ電子顕微鏡による仕事関数の測定とその応用
- Experimental Determination of Electron Inelastic Mean Free Paths in Silve, Gold, Copper and Silicon from Electron Elastic Peak Intensity Ratios
- Direct Measurement of Nonresonant Multiphoton Ionization Profile for Xe Atoms--dependence on incident laser wavelength and ionized charge state
- 斜出射EPMA法に於ける特性X線の取り出し角度の計算