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表面分析研究会 | 論文
- X-Ray Wave Guide and its Possible Application to Surface Analysis: X-Ray Traveling Waves
- 各種汎用ポリマーのC60[+]イオンエッチング速度[含 査読コメント]
- 球面自己組織化マップ(SSOM)によるXPS,AESスペクトルのクラスタ分類--ソフトウェアblossomの体験使用
- 球面クラスタSOMによるTOF-SIMSデータの解析 (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
- 講義 SIMSによるデルタドープ層の評価
- スパッタリングの基礎 (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 傾斜エッチングによるSiO2膜およびSiO2/Si界面の評価
- 同軸試料台と2連微小電流計を用いたスパッタ深さ方向分析用イオンビームの収束及び位置合わせ
- 磁場レンズを用いたチャージニュートラライザーとその効果
- データ処理の裏側
- 深さ方向分析に関するアンケートのまとめ
- 国際ワークショップiSAS'09開催記
- 高輝度放射光を用いた硬X線光電子分光の利用技術 (表面分析研究会 第35回研究会 講演資料)
- Secondary Ion Mass Spectrometry of Isotope-Labeled Iron Corrosion Products
- 用語、一般的手順、データ管理及び取り扱い (解説 ISO/TC201表面化学分析の現状と動向)
- 各種線源の基本構造と制御 (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- 高分解能ラザフォード後方散乱法を用いた成膜材料の表面及び表面近傍の層構造解析
- ディコンボリューション(アルゴリズムと具体例) (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- Si Kα Chemical Shift and Charge State of Si in Metal Silicides
- Surface Segregation of Substrate Al in the Cr/Al/Al System