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表面分析研究会 | 論文
- Invited paper: The backscattering correction factor in AES: a new outlook (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)
- Invited, review: Surface sensitivity of Auger-electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)
- エネルギ軸・強度軸をそろえる
- 講義 各種AES分析装置の装置関数(これまでのラウンドロビンでわかったこと)
- バックグランドの基礎と処理法各論 (特集:VAMAS-SCA Japan復刻版(1989,1994)) -- (実用電子分光法講座(1994年1月))
- Auスパッタエッチングにおけるスパッタ温度と表面ナノ凸凹形成
- 走査型トンネル電子顕微鏡によるナノスケール"仕事関数"の電圧依存性の測定〔含 査読コメント〕
- 高エネルギーXPSによるSiO2/Si層の非破壊深さ方向分析
- Testing of Lateral Resolution in the Nanometre Range Using the BAM-L002 - Certified Reference Material: Application to ToF-SIMS 4 and NanoESCA Instruments
- クラスター二次イオン質量分析計の展望--帯電液滴衝撃/二次イオン質量分析計の進展
- XPSエネルギー軸目盛りの較正法に関するISO規格"表面化学状態分析-X線光電子分光装置-エネルギー軸目盛りの較正(ISO15472)"
- 話題 ISOにおけるAESのエネルギー軸校正法
- XPSスペクトルに現れるイオン照射による酸化物の変化
- 分析現場におけるEPMAの最近の動向に関するアンケート調査から (特集 EPMAの最近の展開)
- PSA07; 4th International Symposium on Practical Surface Analysisを開催して
- SEM-EDX--SR-XRF-XANES (特集 EPMAの最近の展開)
- 固-液界面の液体の構造--表面力測定からのアプローチ (2008年度実用表面分析講演会 PSA-08(Practical Surface Analysis 2008)講演資料)
- 金クラスター/分子膜/Au(111)のミクロな構造と光電子分光との関係
- AES Depth-profileデータ処理方法の検討--ファクターアナリシスと非負拘束付最小二乗法の比較
- Development of a standards base for static SIMS: invited (Proceedings of PSA-07 (International Symposium on Practical Surface Analysis) November 25-28, 2007, Kanazawa, Japan)