スポンサーリンク
表面分析研究会 | 論文
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第6回)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(7)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第8回)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第9回)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第10回)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第11回)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第12回)
- 電子光学入門--電子分光装置の理解のために(第13回)
- 電子分光法によるシリコン酸化物薄膜の物性評価--極低エネルギー酸素イオンビーム複合分子線エピタキシャル法による作製膜について
- Determination of Inelastic Mean Free Path of High Energy Electrons from Shape Analysis of K-Auger and K-conversion Spectra Emitted from Thin Films
- Calculation of depth distribution functions for CuO and SiO2 (Extended abstracts book of the International Workshop for Surface Analysis and Standardization '09 (iSAS-09))
- 試料薄膜化による絶縁物のオージェ分析
- 全反射蛍光X線分析のためのグロー放電スパッタリングによる試料作製
- The Development of the Angle Resolved XPS Equipment at Spring-8 BL15XU
- Management of Extreme Trace Analysis of Metal on Silicon Wafer Surfaces
- XPSによる帯電補正方法の現状--アンケート結果
- 金表面における表面汚染炭化水素C1sのエネルギーシフト
- データ処理--ファクターアナリシス(因子分析)の使い方 (表面分析研究会 第33回研究会 講演資料)
- Analysis of the optical second harmonic generation from Pt nanowires on the faceted MgO(110) template (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)
- 講義 微小角入射X線回折・散乱法による表面・薄膜の構造評価