スポンサーリンク
表面分析研究会 | 論文
- SiとTi表面での極薄酸化膜形成のリアルタイム表面分析 (特集 酸化物表面分析における最近の展開)
- 低加速Arイオン照射によるTiO2のTi 2p XPSスペクトルの変化
- ポーラスな試料のAES分析用断面作製技術
- 集束イオンビームを用いて作製した薄片試料による深い界面のオージェ電子分光法スパッタ深さ方向分析
- X線定在波法によるSrTiO3結晶のサイト選択的XPS測定
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性