低温走査レーザ顕微鏡による局所超伝導特性のイメージング[2] : 面状欠陥による電界集中の観察
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概要
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- 2003-05-21
著者
-
竹尾 正勝
九州大学大学院システム情報科学研究科
-
竹尾 正勝
九大
-
井上 昌睦
九州大学大学院システム情報科学府
-
木須 隆暢
九州大学大学院システム情報科学府
-
井上 昌睦
九大 大学院システム情報科学研究院
-
徳富 英明
九州大学 超伝導システム科学研究センター
-
安永 稔
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
徳富 英明
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
竹尾 正勝
九州大学大学院システム情報科学府
-
竹尾 正勝
九州大学大学院システム情報科学研究院
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