エピタキシャルYBCO膜中の単一欠陥近傍の電界集中 : 低温レーザ顕微鏡によるイメージングと解析解との定量的比較
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概要
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- 2003-12-03
著者
-
竹尾 正勝
九州大学大学院システム情報科学研究科
-
井上 昌睦
九州大学大学院システム情報科学府
-
徳富 英明
九州大学 超伝導システム科学研究センター
-
安永 稔
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
徳富 英明
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
竹尾 正勝
九州大学大学院システム情報科学府
-
木須 隆暢
九州大学超伝導システム科学研究センター
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