RPD法によるn-ブタン,iso-ブタンのイオン化効率曲線の測定
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概要
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Ionization efficiency curves near threshold have been measured with a mass spectrometer employing a monoenergetic eletron beam. The ion source, which is used for the experiment, is a modified Nier type. The electron gun assembly can be removed as the unit from the ionization chamber and easily cleaned. Ionization efficiency curves for xenon, n-butane and iso-butane are given.
- 日本質量分析学会の論文
著者
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三谷 英介
日立製作所中央研究所
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大村 一郎
日立製作所中央研究所
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岡本 潤一
日立製作所中央研究所
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岡本 潤一
日立製作所中央研究那珂分室
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三谷 英介
日立製作所中央研究那珂分室
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岡本 潤一
日立製作所(中央研究所)
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大村 一郎
日立製作所(中央研究所)
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