多チヤンネル化Echelle分光器による<I>He</I>プラズマのイオン温度の測定
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概要
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For the measurement of a profile of spectral line, a high dispersive monochrometer with an Echelle-grating and 12 channels of photoelectric devices using thin glass sheets, to separate the line profile are constructed. The measured resolving power is about 2×10<SUP>5</SUP> and the linear dispersion at the image plane is 1.2 mm/A. This instrument is applied to measure the ion temperature of MACETIE device by using the line of He II 4686 A.
著者
-
安藤 剛三
理化学研究所
-
石村 勉
大阪大学工学部
-
藤田 順治
名古屋大学プラズマ研究所
-
森 一夫
理化学研究所
-
宮本 健郎
名古屋大学プラズマ研
-
内田 岱二郎
名古屋大学プラズマ研究所
-
大塚 正元
名古屋大学プラズマ研究所
-
井上 信幸
名古屋大学プラズマ研究所
-
藤田 順治
名古屋大学フラスマ研究所
-
川崎 温
名古屋大学プラズマ研究所
-
鈴木 康夫
名古屋大学プラズマ研究所
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