研究速報 : 電子顕微鏡弱ビーム干渉縞法によるΣ=3非整合双晶境界の解析（3）
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概要
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- 東京大学生産技術研究所,Institute of Industrial Science, the University of Tokyo,東京大学生産技術研究所第4部 金属材料学,東京大学生産技術研究所第4部 応用放射線材料学,界面物性工学,東京大学生産技術研究所第4部 応用放射線材料学,界面物性工学,材料界面工学の論文
- 1989-08-01
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