1203 影響要因を考慮した試験フェーズにおける品質分析手法 : 一歩進んだゾーン分析の提案(一般セッション)
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概要
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試験フェーズにおける品質を評価する際,ソフトウェアの構成要素(機能,サブシステム等)単位で分析するゾーン分析による評価手法を活用している.ゾーン分析とは,評価対象(構成要素単位)の規模,試験量,及び検出誤り量の関係を,ある一律の基準値と比較し,評価対象及びプロセスの良し悪しを分析する.しかし,開発者のスキルや開発環境により,評価対象そのものの品質と作りこみプロセスの品質は左右されるため,一律の基準値に対し定量的に比較するだけでは,評価に限界がある.本稿では,試験評価対象及び作りこみプロセスの品質に影響する要因を考慮した新たなゾーン分析による,試験フェーズでの品質分析法を提案する.
- プロジェクトマネジメント学会の論文
- 2012-03-14
著者
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由崎 令子
三菱電機インフォメーションシステムズ
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土屋 雅士
三菱電機インフォメーションシステムズ
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大谷 晶子
三菱電機インフォメーションシステムズ
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佐藤 真理
三菱電機インフォメーションシステムズ株式会社
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金近 秀明
三菱電機インフォメーションシステムズ株式会社
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江上 侑希
三菱電機インフォメーションシステムズ株式会社
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