半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
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概要
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半導体レーザは,自然放出光の影響による振幅揺らぎとキャリア密度の変動から,屈折率の変動,すなわち発振周波数の変動となる周波数揺らぎを保有している.本研究では,半導体レーザの周波数雑音特性を積極的に利用した新たな応用として,光距離計測が可能か検討した.我々が提案する光距離計測では,周波数雑音の比較により、距離差を求める.それにより,光源の変調を必要とせず,遠距離でも測定精度が変わらないレーザ距離計測が可能と考えられる.ここでは,提案手法により0〜35 mの光距離計測検討を行ったので報告する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-08-22
著者
-
大河 正志
新潟大学工学部
-
佐藤 孝
新潟大学工学部
-
大平 泰生
新潟大学工学部
-
坂本 秀一
新潟大学工学部
-
清水 直弥
新潟大学大学院自然科学研究科
-
土井 康平
東北学院大学
-
前原 進也
新潟大学大学院自然学研究科
-
新井 英明
新潟大学大学院自然科学研究科
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