半導体レーザの周波数雑音特性を用いた物理乱数生成の検討 : 発振周波数狭窄化が物理乱数に及ぼす影響に関する研究(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
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概要
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半導体レーザから出力された光は強度及び周波数が変動する高速の雑音特性を持っている。本研究ではその周波数雑音を、周波数弁別器を利用して光強度に変換し、その信号から物理乱数の高速生成を行っている。今回の研究では半導体レーザの発振幅を外部共振器を利用して狭窄化し、そのときの物理乱数とフリーランニング時の物理乱数の比較を行った。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-08-22
著者
-
大河 正志
新潟大学工学部
-
佐藤 孝
新潟大学工学部
-
新井 秀明
新潟大学大学院自然科学研究科
-
大平 泰生
新潟大学工学部
-
坂本 秀一
新潟大学工学部
-
土井 康平
東北学院大学
-
前原 進也
新潟大学大学院自然学研究科
-
古川 元一
新潟大学大学院自然学研究科
-
斎藤 高大
新潟大学大学院自然学研究科
-
酒井 翔太
新潟大学大学院自然学研究科
-
新井 秀明
新潟大学大学院自然学研究科
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