1a-A4-7 同時計数法による電子-原子衝突の多重微分断面積の測定IV(1a A4 原子・分子)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
28pTA-5 2.0MeV/u Sイオンの薄膜透過後非平衡電荷分布の測定(28pTA 放射線物理,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
-
17pTD-4 0度電子分光による固体内電子衝突過程研究 III
-
27pZE-1 0度電子分光による固体内電子衝突過程研究II
-
24p-P-10 高速重イオンとヘリウムの衝突におけるバイナリーピークの電荷依存性
-
3p-TB-1 5-25keV He^+-Ne衝突からの放出2次電子スペクトルの測定
-
3a-TB-6 同時計数法による電子ー原子衝突の多重微分断面積の測定 III
-
2p-RL-11 CONVOY電子の生成機構について
-
27p-J-13 電子衝撃による原子・分子の発光の角分布測定
-
27p-J-5 同時計数法による電子-原子衝突の多重微分断面積の測定 II
-
1a-SA-11 高速イオン : 気体衝突による前方放出2次電子のエネルギースペクトル
-
1a-SA-9 3-27keV He^+-He衝突からの放出二次電子スペクトル II
-
1a-SA-8 3-27keV He^+-He衝突からの放出二次電子スペクトル I
-
2p-SH-3 H^+, H_2^+, H_3^+によりfoilから放出される電子のエネルギー・角度分布 V
-
高速水素イオン-希ガス衝突における電子捕獲微分断面積の測定II
-
30a-Q-7 高エネルギーイオン衝撃によるガス凝縮層の電離過程
-
28p-G-8 20〜30eVにおけるH_2の光電子角度分布
-
4p-WA-4 1.05MeV/amu Ar^+Arによる2次イオンのcompound atom modelによる解析
-
4p-WA-2 ビームフォイル分光(Alスペクトルの解析と準位の寿命)
-
3p-KP-14 Ar^+Ar衝突におけるAr L-MMオージェ電子の測定
-
3p-KP-13 重イオン衝突による2次イオン生成断面積の測定
-
3p-KP-12 固体標的中を通過するAr-イオンのKβX線スペクトル
-
14a-G-3 固体標的原子と衝突したArイオンの多重内殻電離
-
14a-G-2 〜0.2MeV/amu重イオン衝撃におけるKrMNNオージェスペクトル
-
2a-M-8 同時計数法による電子-原子衝突の多重微分断面積の測定I
-
2p-R-11 高速イオン(H^+, H_2^+, H_3^+, He^+)-気体衝突におけるZ^2-scaling及びloss electronの測定
-
30a-B-8 気体のMeVイオン衝撃による2次元電子生成微分断面積 IV
-
27p-C-13 気体の高速イオン衝撃による二次電子生成微分断面積 III
-
30p-J-1 重イオン衝突による2次イオン生成とその電荷分布(その2)
-
12a-M-3 イオンサイクロトロン質量分析計のセルの改良
-
5a-NW-5 10〜24keVH^+-He衝突における放出2次電子スペクトル
-
30a-B-9 5-20keVイオン・原子分子衝突における放出二次電子スペクトルVI : H^+_2, D^+_2+H_2
-
1a-S-7 5-20keV イオン・原子分子衝突における放出2次電子スペクトルV. H^+,H_2^+,H_3^+,He^+-H_2
-
31a-X-3 高エネルギー重イオンによる0°電子分光(III)
-
4p-L-5 高エネルギー重イオンによる0°電子分光(II)
-
25aYK-10 荷電粒子トラップ中の水素負イオン・陽子雲の状態とその制御
-
24pF-1 超低速反陽子実験のための荷電粒子蓄積トラップの開発II
-
25pB-10 超低速反陽子実験のための荷電粒子蓄積トラップの開発
-
12p-Q-8 高速重イオンによる強磁性体伝導電子の逆モット散乱
-
30p-S-11 相対理論的重イオンによる高速電子生成II
-
30a-Q-9 95MeV/uArイオンと炭素薄膜の衝突における遅延X線生成
-
30p-S-14 放射性電子捕獲断面積 : 26 MeV/u Ar^C
-
23aF-9 Niマイクロキャピラリーターゲットを通過した低速多価イオンからの発光(3)
-
28a-ZC-12 Niマイクロキャピラリーターゲットを通過した低速多価イオンからの発光(2)
-
26p-L-15 Niマイクロキャピラリーターゲットを通過した低速多価イオンからの発光
-
28pTA-12 多価イオンによるH_2O/Si(100)表面からの2次イオン脱離
-
22aWB-6 多価イオンによるH_2O/Si(100)表面からのプロトン脱離
-
23aF-10 Niマイクロキャピラリーを通過したXe^の荷電分布の測定
-
22aC-7 高温超伝導体を用いた小型多価イオン源の設計
-
26p-YM-13 低速多価イオンによるプロトンスパッタリングに関する研究IV
-
2p-YF-10 低速多価イオンによるプロトンスパッタリングに関する研究III
-
6p-H-9 低速多価イオンによるプロトンスパッタリングに関する研究II
-
28a-F-10 低速多価イオンによるプロトンスパッタリングに関する研究
-
1p-E-3 微視的線量の標的理論への応用
-
14p-M-6 10〜50KeV電子線による固体からの二次電子線エネルギースペクトル測定 : (II)
-
3a-H-3 10-50KeV電子線による固体からの二次電子線エネルギースペクトル測定II
-
Measurements on slowing down spectra of secondary electrons from Co^ γ-rays in aluminum and copper : 放射線物理
-
中速電子線による固体からの二次電子エネルギースペクトル測定 : 放射線物理
-
放射線作用の統計理論 : 放射線物理
-
空洞原理の実験的検討 (IV) : 放射線物理 : 原理
-
電離放射線のエネルギー附与の構造とδ線効果
-
10a-D-3 放射線物理の問題点
-
8a-YP-5 低速多価イオンとミクロポーラスニッケルとの相互作用III
-
31p-YK-7 低速多価イオンとミクロポーラスニッケルとの相互作用II
-
低速多価イオンとミクロポーラスニッケルとの相互作用
-
30p-YA-6 低速多価イオンとミクロポーラスアルミナとの相互作用II
-
28p-YR-8 低速多価イオンとミクロポーラスアルミナとの相互作用
-
4a-L-4 低速Ar多価イオンからのL-X線測定
-
5a-K-1 エキン電子による電子親和度の測定
-
31a-XM-9 超低速反陽子実験のための荷電粒子蓄積トラップの開発
-
11a-G-3 高速He^oの炭素薄膜通過後の中性成分
-
2p-SH-2 高速H°, He°の炭素薄膜通過後の中性成分
-
3p-NT-8 高速H^0の炭素薄膜通過後における中性成分の測定
-
原子衝突の実験(原子衝突論特集)
-
電子─分子衝突による2次電子の角度分布および エネルギースペクトル : 放射線物理
-
8p-H-1 低エネルギー電子による気体中での一次電離および全電離の測定 I. 二次電子放出微分断面積の測定
-
3p-B-4 低速多価イオンによって固体表面から脱離される水素イオンの強い価数依存性
-
13p-Q-1 低速多価イオンによる絶縁体表面のスパッタリングの研究III
-
31p-ZG-1 低速多価イオンによる絶縁体表面のスパッタリングの研究II(放射線物理)
-
25p-L-2 低速多価イオンによる絶縁体のスパッタリングの研究
-
30a-X-14 低速ミューオン : 炭素薄膜衝突における放出2次電子数分布
-
30a-X-12 低速反陽子と炭素薄膜の衝突における前方放出電子のエネルギースペクトル
-
13a-Q-13 低速正負ミュオン入射による二次電子生成
-
1p-E-4 中速電子(10-50KeV)の内穀電離と有効飛程
-
29a-L-11 相対運動量の小さな(e,2e)過程における電子相関(原子・分子)
-
28a-ED-1 N原子及びO原子を含む二原子分子・三原子分子のK殻励起による解離性光電離(原子・分子)
-
29p-I-6 軽イオン-薄膜衝突における低エネルギー二次電子放出I(放射線物理)
-
3a-D4-11 70keV/uNH1+(j=0-4)によるコンボイ電子生成(放射線物理)
-
28a-ED-5 Rb原子のP電子励起による光電離(原子・分子)
-
28a-ED-6 4.1〜8KeVシンクロトロン放射光によるXe原子の多重光電離(原子・分子)
-
3a-A4-3 H_2の光電子角度分布(3a A4 原子・分子)
-
30p-CD-4 Csの光電離断面積(原子・分子,第41回年会)
-
2p-T-4 ベニングトラップからの低速反陽子の引き出し(2pT 原子・分子,原子・分子)
-
1a-A4-7 同時計数法による電子-原子衝突の多重微分断面積の測定IV(1a A4 原子・分子)
-
1p-A4-3 5-30keV水素分子イオン(Hn^+,Dn^+n=1-3)-He衝突における放出2次電子のエネルギー・角度分布(1p A4 原子・分子)
-
1a-T-11 低速Ar多価イオンと固体表面衝突における放出L-X線測定(1aT 原子・分子,原子・分子)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク