28a-LG-10 BaF_2による陽電子寿命測定(格子欠陥)

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 1987-03-27

著者

• 金沢 育三

  東京学芸大

• 木塚 徳志

  東京学芸大

• 村上 英興

  東京学芸大

• 岩下 彪

  東京学芸大

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