空洞共振器法に適した誘電体基板評価用55GHz空洞共振器の開発
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概要
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マイクロ波帯における低損失誘電体平板材料の面方向の複素誘電率測定法である空洞共振器法は、JIS規格やIEC規格にて標準化され、広く用いられている。しかしながら、規格化された共振器寸法をV帯以上に適用し、市販の1.2mm同軸線路を用いた場合、励振孔寸法が共振器に対して大きくなりすぎ、共振電磁界に及ぼす影響が大きくなる。このため、同測定法のV帯以上への適応は、これまで困難とされていた。本研究では、共振器寸法や励振孔に関する検討を行い、空洞共振器法に適した誘電体基板評価用55GHz空洞共振器を開発した。さらに、試作した共振器を用いて、PTFE平板の複素誘電率測定を行い、その有効性を実証した。
- 2012-12-06
著者
-
古神 義則
宇都宮大学大学院工学研究科
-
清水 隆志
宇都宮大学
-
川原 祐紀
株式会社エムメックス
-
清水 隆志
埼玉大学:(現)東北工業大学
-
赤坂 清三
株式会社川島製作所
-
川原 祐紀
株式会社川島製作所
-
川原 裕紀
アンリツ
-
清水 隆志
東北工業大学nrdスーパーブロードバンド研究センター
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