CdTe半導体検出器を用いた撮影条件下での一次X線スペクトル測定に影響する因子の検討(第39回秋季学術大会放射線防護・管理関連演題発表後抄録)
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概要
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- 公益社団法人日本放射線技術学会の論文
- 2012-04-12
著者
-
加藤 秀起
藤田保健衛生大学医療科学部放射線学科
-
藤井 茂久
藤田保健衛生大学
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藤井 茂久
藤田保健衛生大学医療科学部放射線学科
-
加藤 秀起
藤田保健衛生大 医療科学
-
小野 孝明
藤田保健衛生大学医療科学部放射線学科
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