6-2 新製品開発のための少数サンプルによる信頼性評価へのベイズ統計の適用について(セッション6「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)

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概要

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• 日本信頼性学会の論文
• 2013-11-05

著者

• 山本 渉

  電気通信大学

• 石田 勉

  国立大学法人電気通信大学大学院情報システム学研究科社会知能情報専攻

• 鈴木 和幸

  国立大学法人電気通信大学

• 鈴木 和幸

  国立大学法人電気通信大学大学院情報システム学研究科社会知能情報学専攻

• 下白木 諒

  国立大学法人電気通信大学大学院

• 川上 かおり

  国立大学法人電気通信大学大学院

• 山本 渉

  国立大学法人電気通信大学大学院

• 石田 勉

  国立大学法人電気通信大学大学院

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