20aFB-5 走査ゲート顕微法による開放系量子ドット内の電子状態の直接観察(20aFB 量子ドット,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2012-08-24
著者
-
青木 伸之
千葉大院融合
-
落合 勇一
千葉大院融合
-
Burke A.
アリゾナ州立大
-
Akis R.
アリゾナ州立大
-
Ferry D.
アリゾナ州立大
-
Brunner R.
レオベン大
-
Burke A.
アリゾナ州立大:ニューサウスウェールズ大
-
Meisels R.
レオベン大
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