低曲げ損失光ファイバのMPI測定に関する検討(光波センシング,光波制御・検出,光計測,ニューロ,一般)
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概要
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低曲げ損失光ファイバ(BIF)の多光路干渉(MPI)特性の測定に関し、外部共振器型波長可変レーザー(ECL)及びパワーメータ(PM)を用いたECL/PM法、スーパールミネッセントダイオード(SLD)及び光スペクトラムアナライザ(OSA)を用いたSLD/OSA法、並びに光ファイバに張力を付与するFiber Stretch(FS)法について、測定条件とMPIの関係について検討した結果を示す。また、BIF接続点の軸ずれ量、並びに曲げ損失特性とMPIの関係について示し、BIF伝送性能評価への適応性について考察する。
- 2012-02-24
著者
-
松井 隆
静岡大学工学部
-
松井 隆
日本電信電話株式会社アクセスサービスシステム研究所
-
中島 和秀
日本電信電話株式会社アクセスサービスシステム研究所
-
松井 隆
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
中島 和秀
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
深井 千里
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
中島 和秀
日本電信電話(株)nttアクセスサービスシステム研究所
-
松井 隆
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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