透過型偏光素子による層間クロストーク低減評価(ヘッド,スピントロニクス,一般)
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概要
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多層対応光ピックアップにおいて,小型化が可能な層間クロストーク除去方式として透過型偏光素子を搭載する.透過型偏光素子は2枚の波長板と偏光子からなり,対象層からの信号光と非対象層からの迷光とで焦点位置が異なる事を利用して層間クロストークを除去する.本方式はフォーカスエラー信号検出に非点収差法を採用した光ピックアップの1ビーム方式もしくは3ビーム方式両方に適応可能である.試作した素子を光ディスク評価機に搭載し,DPP法によるトラッキングエラー信号の評価を行った.層間隔5μmの2層BDを用いて評価を行った結果,トラッキングエラー信号の変動が透過型偏光素子により約半減した.
- 2011-10-06
著者
-
黒川 貴弘
株式会社日立製作所中央研究所
-
渡辺 康一
日立製作所 中央研究所
-
井手 達朗
(株)日立製作所中央研究所
-
井手 達朗
株式会社日立製作所
-
木村 茂治
株式会社日立製作所中央研究所
-
達 永里子
株式会社日立製作所中央研究所
-
渡辺 康一
株式会社日立製作所中央研究所
-
渡辺 康一
日立製作所研究開発本部
-
木村 茂治
株式会社 日立製作所 中央研究所
-
木村 茂治
株式会社日立製作所
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