26aTN-6 X線導波路現象を利用した薄膜高次構造のリアルタイム観測(26aTN X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
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概要
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- 2011-03-03
著者
-
伊藤 正久
群馬大院工
-
林 好一
東北大金研
-
鈴木 宏輔
群大院工
-
伊藤 文武
群馬大工
-
伊藤 正久
群大工
-
竹中 久貴
NTT-AT
-
Hayashi Kenshi
Department Of Electronics Faculty Of Engineering Kyushu University
-
Tang Haujing
摂南大工
-
Kitamura Hideo
Riken Spring-8 Center Harima Institute
-
Hayashi Kenshi
Information Science And Electrical Engineering Kyushu University
-
竹中 久貴
NTT--ATD
-
伊藤 正久
群馬大工
-
Hayashi K
Photodynamics Research Center Riken (institute Of Physical And Chemical Research)
-
竹中 久貴
Ntt-a
-
林 好一
Information Science And Electrical Engineering Kyushu University
-
鈴木 宏輔
群馬大工
-
Hu Wen
原研
-
中村 貴宏
東北大多元研
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