OS0205 逆問題解析に基づくインデンテーション法による積層薄膜材料の機械的特性評価(工業材料の変形特性とそのモデル化,オーガナイズドセッション)
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概要
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In this study, a numerical method of the identification of mechanical parameters of thin films such as Young's modulus is developed. The identification is based on the minimization of a cost functional using a gradient descent algorithm. The main result is the computation of the gradient of the contact problem using a direct differentiation technique. The efficiency of the method is illustrated in the identification of the Young's moduli of thin films.
- 2009-07-24
著者
-
岸本 喜久雄
東京工業大学大学院理工学研究科機械物理工学専攻
-
岸本 喜久雄
東京工業大学大学院理工学研究科
-
岸本 喜久雄
東工大
-
岸本 喜久雄
東工大院理工
-
岸本 喜久雄
東京工業大学
-
Kishimoto Kikuo
Department Of Mechanical And Intelligent Systems Eng. Tokyo Institute Of Technology
-
足立 忠晴
豊橋技科大
-
足立 忠晴
豊橋技術科学大学
-
プルー ジョリス
東京工業大学
-
コンスタンチネスク アンドレイ
CNRS, Ecole Polytechnique Laboratoire de Mecanique des Solides
-
コンスタンチネスク アンドレイ
Cnrs Ecole Polytechnique Laboratoire De Mecanique Des Solides
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