実装基板レベルにおける同期型イミュニティ試験手法の検討(電子デバイスの信頼性技術)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
電磁ノイズによる装置の誤動作は,装置内の能動素子であるLSIの誤動作が主要因である.ESDガン試験では,あるタイミングで発生する誤動作は見落とされがちである.そこで,本稿では,LSIが実装された回路基板上で,LSIの動作に同期したノイズを任意のタイミングで印加するイミュニティ試験手法について述べる.印加するノイズ源としてESD(Electrostatic Discharge),及び,TLP(Transmission Line Pulse)を用い,設定した任意のタイミングで印加することで,回路の中で特定のタイミングでイミュニティの低下する領域があること,また,一例として,FPGAおよび汎用CPUを対象に試験した結果,イミュニティが低下する時間領域は,いずれもクロック等で内部の状態が変化する時期と関係していることを述べる.
- 2010-11-01
著者
-
塚越 常雄
日本電気株式会社
-
中家 利幸
阪和電子工業株式会社
-
松井 信近
阪和電子工業株式会社
-
塚越 常雄
(株)NECシステム実装研究所
-
塚越 常雄
Nec
-
中家 利幸
阪和電子工業(株)
-
松井 信近
阪和電子工業(株)
-
塚越 常雄
NECキャピタルソリューション株式会社
関連論文
- CS-2-1 薄膜技術によるEBG構造の小型化に関する検討(CS-2.メタマテリアル技術とそのマイクロ波応用の最新動向,シンポジウムセッション)
- 実装基板レベルにおける同期型イミュニティ試験手法の検討 (電子デバイスの信頼性技術)
- BS-3-3 光ファイバ型電気光学/磁気光学プローブによる高周波電界/磁界計測(BS-3.GHz超の電磁波計測技術,シンポジウム)
- 電子機器の電源ノイズ抑制に向けたEBG構造の検討 : インダクタンス増加型EBG構造の提案(線路/一般)
- C-2-97 2次元通信媒体端部からの漏洩電磁界抑制(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- LSIのGND端子に印加されるノイズに対するイミュニティ評価法
- 半導体微細加工技術を用いた電磁環境両立性(EMC)測定用センサ
- 実装基板レベルにおける同期型イミュニティ試験手法の検討(電子デバイスの信頼性技術)
- C-2-96 マッシュルーム型EBG構造の2次元通信用カップラーへの応用(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- EMCテクノロジー ESDインパルスノイズに対する LSIの誤動作解析技術
- B-4-41 TLPによるインパルスイミュニティ評価系(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 複数の機器を接続したシステムにおける放射電磁波検査手法の開発
- MEMSマイクロミラーアレイによる非接触静電気分布測定システム
- 楔形加熱容器に入射する電磁波の2次元シミュレーション
- マイクロ波加熱処理用楔形容器の加熱分布の考察
- マイクロ波加熱処理への電波吸収体技術の応用に関する基礎的検討
- シリコン製マイクロミラーを用いた静電気分布測定装置の開発
- MEMSマイクロミラーアレイによる非接触静電気分布測定システム
- インパルス性ノイズを検知する電源系ノイズセンサ
- 電子回路の内部動作に同期したイミュニティ測定
- C-2-75 二次元通信シートの狭小化検討(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- 非対称ノイズイミュニティ フリップフロップの動的ノイズ応答
- C-2-76 二次元通信シートとマイクロ波回路との層間接続インターフェイス(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- 実時間静電気測定によるイオナイザーと除電ブラシの除電効果の比較(ESD(Electro Static Discharge)静電気放電)