20pHT-8 イン・ビームメスバウア分光法による応力下シリコン中の鉄不純物観察(20pHT 格子欠陥,ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
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概要
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- 2010-03-01
著者
-
鈴木 都文
東工大理工
-
吉田 豊
静岡理工大理工
-
小林 義男
理研
-
上野 秀樹
理研
-
行平 憲一
静岡理工大理工
-
早川 一生
静岡理工大理工
-
三原 基嗣
阪大理
-
佐藤 渉
金沢大自然
-
吉見 彰洋
理研
-
長友 傑
ICU
-
市川 雄一
理研
-
古川 武
東工大理工
-
井上 壮士
東工大理工
-
挾間 優佳
東工大理工
-
飯島 裕章
東工大理工
-
土屋 真人
東工大理工
-
林 宏憲
東工大理工
-
石井 裕司
東工大理工
-
七尾 翼
東工大理工
-
旭 耕一郎
東工大理工
-
吉見 彰洋
理研仁科セ
-
旭 耕一郎
東工大
-
井上 壮志
東工大理
-
井上 壮志
東工大理工
-
上野 秀樹
理研仁科セ
-
旭耕 一郎
東工大理
-
吉田 豊
静岡理工科大学
-
小林 義男
理研仁科セ
-
長友 傑
国際基督教大
-
小林 義彦
電通大電子物性
-
三原 基嗣
大阪大理
-
石井 裕司
産総研CERC
-
石井 裕司
東工大理
-
三原 基嗣
大阪大学
-
林 宏憲
東工大理
-
土屋 真人
東工大理
-
上野 秀樹
理化学研究所仁科加速器研究センター
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