23pTC-8 しきい光電子を用いた、e-Ne,Ar,Kr,Xe衝突の高分解能全断面積測定によるFeshbach共鳴の寿命決定(23pTC 原子分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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概要

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• 2010-03-01

著者

• 伊藤 健二

  Kek-pf

• 伊藤 健二

  高エ研放射光

• 豊島 海士

  東工大院理工

• 黒川 学

  東工大院理工

• 北島 昌史

  東工大院理工

• 小田 切丈

  東工大院理工

• 加藤 英俊

  上智大理工

• 星野 正光

  上智大理工

• 田中 大

  上智大理工

• 小田切 丈

  東工大理化学

• Tanaka H

  Nanotechnology Research Institute National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology (

• Takagiwa Hiroyuki

  Department Of Physics Aoyama Gakuin University

• Hiraoka T

  Faculty Of Integrated Arts And Science Hiroshima University

• 小田切 丈

  東工大院理工

• 小田切 丈

  東京工業大学院化学

• 北島 畠史

  上智大理工

• 田中 大

  上智大学理工学部 物理学科

• Takei Humihiko

  Institute For Iron Steel And Other Metals Tohoku University

• Hiraoka T

  Faculty Of Science And Engineering Saga University

• Tanaka H

  Hokkaido Univ. Sapporo Jpn

• Tokoro Hiroko

  Department Of Chemistry School Of Science The University Of Tokyo

• TANAKA Hitoshi

  XFEL Project Head Office/RIKEN

• 伊藤 健二

  Kek-pf:総研大

• Tanaka Hiroshi

  Xfel Project Head Office/riken

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