半導体中の光吸収係数および少数キャリアの拡散長測定のための改良型微分光電流法
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概要
著者
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長谷川 茂
静岡県工業技術センター
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田中 昭
静岡大学大学院電子科学研究科・静岡大学電子工学研究所
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助川 徳三
静岡大学大学院電子科学研究科・静岡大学電子工学研究所
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長谷川 茂
静岡大学大学院電子科学研究科
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渡辺 経夫
東京芝浦電気株式会社
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