長谷川 茂 | 静岡県工業技術センター
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概要
関連著者
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長谷川 茂
静岡県工業技術センター
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竹内 繁
日本電装(株)
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田中 昭
静岡大学大学院電子科学研究科・静岡大学電子工学研究所
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助川 徳三
静岡大学大学院電子科学研究科・静岡大学電子工学研究所
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長谷川 茂
静岡大学大学院電子科学研究科
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吹原 祐子
静岡県工業技術研究所浜松工業技術支援センター
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上野 秀雄
日立精工(株)
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竹内 繁
静岡大学電子工学研究所
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竹内 繁
日本電装株式会社
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渡辺 経夫
東京芝浦電気株式会社
著作論文
- B-4-69 CISPR測定系におけるノイズ源位置推定への遺伝的アルゴリズムの適用(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- Ga(As,P)混晶の光吸収係数と少数キャリア拡散長の温度依存性
- Interfacial layerのあるGa(As,P)ショットキーバリアフォトダイオードの光吸収係数および少数キャリアの拡散長の測定
- 拡散接合フォトダイオードの光吸収係数,少数キャリア拡散長および不純物分布の測定
- 半導体中の光吸収係数および少数キャリアの拡散長測定のための改良型微分光電流法