光走査型プローブシステムと光磁界プローブアレーによる磁界分布測定(電磁界評価と干渉低減技術,<特集>次世代電子機器における先端実装技術と電磁波ノイズ低減技術論文)
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概要
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GHz帯における高速かつ低侵襲な電磁界分布測定を目指して,光技術を応用した光走査型プローブシステムの開発を進めている.我々はこれまでに,LiNbO_3などの電気光学結晶基板と光走査型プローブシステムを用いて近傍電界測定実験を行い,その有効性を確認してきた.一方磁界分布測定に関しては,特にGHz帯での磁界検出を目的として,光走査型プローブシステムと組み合わせて使用する光磁界プローブアレーの開発を行っている.この光磁界プローブアレーの基本特性評価を行い,光走査型プローブシステムと光磁界プローブアレーによる磁界分布測定について報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-11-01
著者
-
鈴木 英治
鹿児島大学理学部地球環境科学科
-
荒井 賢一
(独)情報通信研究機構仙台リサーチセンター
-
太田 博康
(独)情報通信研究機構仙台リサーチセンター
-
太田 博康
情報通信研究機構仙台リサーチセンター
-
荒井 賢一
情報通信研究機構仙台リサーチセンター
-
高橋 正慎
情報通信研究機構仙台高感度電磁波測定技術リサーチセンター
-
荒川 悟
アンリツ株式会社コアテクノロジーR&Dセンター
-
鈴木 英治
TDK株式会社テクノロジーグループアプリケーションセンター
-
佐藤 利三郎
佐藤利三郎研究室
-
太田 博康
通信・放送機構 仙台emcリサーチセンター
-
荒川 悟
アンリツ株式会社コアテクノロジーr&dセンター
-
鈴木 英治
Tdk株式会社
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