光走査型電界プローブシステム
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概要
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PCB基板やLSIチップのGHz帯までの近傍電磁界分布を高速かつ高空間分解能で測定することを目的として、光走査技術を応用した光走査型電磁界プローブシステムを研究開発している。本プローブシステムは、高速に走査したレーザ光を電気光学結晶に入射して、電気光学効果による光の偏光状態の変化を解析することにより、高速に電界分布を測定することを特徴とする。実験により、プローブシステムの周波数特性、線形性、空間分解能などを評価したので、それについて報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-10-14
著者
-
鈴木 英治
鹿児島大学理学部地球環境科学科
-
荒井 賢一
(独)情報通信研究機構仙台リサーチセンター
-
太田 博康
(独)情報通信研究機構仙台リサーチセンター
-
太田 博康
通信・放送機構 仙台emcリサーチセンター
-
荒井 賢一
通信・放送機構仙台EMCリサーチセンター
-
鈴木 英治
通信・放送機構仙台EMCリサーチセンター
-
荒川 悟
通信・放送機構仙台EMCリサーチセンター
-
荒川 悟
アンリツ株式会社コアテクノロジーr&dセンター
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