21aWH-4 H/Si(001)2x1表面における低エネルギー電子線誘起結合切断機構(表面界面ダイナミクス,領域9,表面・界面,結晶成長)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 金崎 順一

  阪大産研

• 谷村 克己

  阪大産研

• 谷村 克己

  大阪大学産業科学研究所

• 谷村 克巳

  阪大産研

• 市橋 数理

  阪大産研

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