C-4-23 InGaP量子井戸レーザを用いたフォトリフレクタンス法によるInGaAs量子井戸の評価(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2009-03-04

著者

• 角田 慎一

  大阪電気通信大学大学院工学研究科

• 須崎 渉

  大阪電気通信大学工学研究科

• 須崎 渉

  大阪電気通信大学大学院工学研究科

• 伊名田 剛司

  大阪電気通信大学

• 井川 貴雄

  大阪電気通信大学大学院工学研究科

• 杉浦 友彦

  大阪電気通信大学大学院工学研究科

• 伊名田 剛司

  大阪電気通信大学大学院工学研究科

• 須崎 渉

  大阪電気通信大学

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