発光デバイスのプロトン照射効果測定
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概要
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A measurement system for proton radiation effects in light emitting devices such as light emitting diodes and semiconductor lasers are described. 10-MeV and 200-MeV proton beams in the Wakasawan Energy Research Center are utilized. Current vs. voltage characteristics, current vs. light output characteristics and spectra can be measured using an integration sphere, a Si photodiode, a data logger and a spectrometer. In the case of 200-MeV irradiation, remote measurement is conducted.
著者
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伊藤 慶文
若狭湾エネ
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石神 龍哉
(財)若狭湾エネルギー研究センター
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權田 俊一
福井工業大学宇宙通信工学科
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石神 龍哉
若狭湾エネルギー研究センター
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久米 恭
若狭湾エネルギー研究センター
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權田 俊一
福井工業大学
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伊藤 慶文
若狭湾エネルギー研究センター
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津々美 裕之
福井工業大学宇宙通信工学科
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菅 文博
浜松ホトニクス
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