大規模ディジタルLSIの製造後クロック調整手法の提案と検証(Session 3)
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概要
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製造ばらつきにより発生するクロック・スキューの問題を解決するための手法として,遺伝的アルゴリズムを用いたディジタルLSIの製造後クロック調整技術が提案されている.しかし,大規模なLSIの調整では,調整箇所が増大するため,調整時間が増加するという問題がある.そこで,本研究では,大規模ディジタルLSIにも適用可能な製造後クロック調整手法を提案する.提案手法では, LSI設計時に行うSTA(Static Timing Analysis)の結果を用いて調整箇所を限定し,調整時間を短縮する.それに加えて,遺伝的アルゴリズムの初期集団の分布を工夫することで,更に調整時間を短縮する.さらに,これらの手法による調整効果をLSIの設計時に検証できるようにするための調整シミュレータを開発した.このシミュレータを用いた調整事件の結果, 1031筒所ものフリップフロップが存在する実用的な大規模LSIにおいて,数秒という現実的な時間で調整が完了できる見込みを得た.
- 社団法人情報処理学会の論文
- 2007-03-03
著者
-
高橋 栄一
産業技術総合研究所
-
村川 正宏
産業技術総合研究所
-
樋口 哲也
産業技術総合研究所
-
和田 淳
三洋電機株式会社
-
高橋 栄一
産業技術総合研究所情報技術研究部門
-
古谷 立美
東邦大学大学院理学研究科
-
諏佐 達也
東邦大学大学院理学研究科
-
古市 愼治
三洋電機株式会社
-
上田 佳孝
三洋電機株式会社
-
村川 正宏
半導体 MIRAI プロジェクト, 産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
-
高橋 栄一
半導体 MIRAI プロジェクト, 産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
-
樋口 哲也
半導体 MIRAI プロジェクト, 産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
-
古谷 立美
東邦大学
-
村川 正宏
独立行政法人産業技術総合研究所半導体miraiプロジェクト
-
樋口 哲也
独立行政法人産業技術総合研究所半導体miraiプロジェクト
-
古谷 立美
東邦大学大学院理学研究科情報科学専攻
-
樋口 哲也
産業技術総合研究所 情報技術研究部門
-
樋口 哲也
産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
-
高橋 栄一
独立行政法人産業技術総合研究所情報技術研究部門
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