A-74 テストベンチ設計支援システム(A-3. VLSI設計技術,一般講演)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

• テストベンチ設計支援システムについて報告する。本システムは、伝送装置で多く使用されるフレームデータの自動生成用テストベンチ設計を簡易化するものである。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1994-09-05

著者

• 河村 一

  Nec

• 齊藤 正一

  日本電気(株)

• 中木 琢夫

  日本電気テレコムシステム株式会社

• 根本 武晴

  日本電気テレコムシステム株式会社

• 齊藤 正一

  日本電気株式会社

• 河村 一

  日本電気株式会社

• 中木 琢夫

  NECテレコムシステム

関連論文

• A-54 プリント板設計CADシステムにおけるシンボル自動作成システム(A-3. VLSI設計技術,一般講演)
• A-74 テストベンチ設計支援システム(A-3. VLSI設計技術,一般講演)
• 論理合成を用いた低消費電力回路への自動変換手法
• バウンダリスキャンテストの伝送装置への適用
• PKG自動テスト方式のテストコストに関する一考察 : ファンクションテスト、インサーキットテスト方式と比較したバウンダリスキャン方式
• テストベンチ設計支援システム
• 階層展開を制御する論理合成用知的シエル
• LSI端子配置のための編集・検証システム

スポンサーリンク