PKG自動テスト方式のテストコストに関する一考察 : ファンクションテスト、インサーキットテスト方式と比較したバウンダリスキャン方式

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概要

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プリント基板の量産製造テストにおける代表的な汎用自動方式であるファンクションテスト方式、インサーキットテスト方式、及びバウンダリスキャン方式に関して、LSI、PKGの高集積化、高密度化が進め時間軸上においてのテステコスト比較を行ない、3者の優劣を分析し、バウンダリスキャン方式が将来の汎用テスト方式として優秀である事を明らかにする。一方、バウンダリスキャン方式におけるテスト配線の実装が、将来クリティカルなコストインパクトを引き起こす危険性に触れ、テストコストを軽減するバウンダリスキャン方式の一手法を提案する。
社団法人電子情報通信学会の論文
1993-12-10

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